Low Yield 원인

 – 설계 마진 부족 : 여러가지 원인이 있지만 특히 온도 관련한 설계 마진이 부족한 경우가 많음, 이 경우 Hot Cold 간의 수율 차이가 극심하게 됨

 – 테스트 마진 부족 : 소자의 입장에서 당연히 좀더 튼튼한 소자를 만들기 위하여 screen을 하는 것은 당연하지만 spec over가 지나치게 되면 수율이 떨어짐

 – 공정 마진 부족 : 대부분의 Technology에서 Mask와 공정간의 취약한 부분이 존재하게 된다. 이것을 정확하게 걸러내야만  수율을 올릴수가 있다.

Low Yield 분석시 가장 잘못된 방향은 테스트와 설계 마진을 생각하지 않고, 무턱대고 공정을 건드리게 되는 경우가 있는데, 이 경우 자칫 제품의 마진이 오히려 줄어드는 경우가 발생할수 있다. 따라서 이런 경우에는 충분한 경험과 지식을 갖춘 전문가가 최대한 다양한 정보(Data)를 확보한 후 정확한 방향을 제시해야만 제대로 된 수율 향상의 방향으로 나아갈수 있다.

이에 (주)비엠파크에서는 오랜 경험을 가진 전문가 그룹과 최대한 데이터를 확보할수 있는 프로그래밍 기술을 모두 확보하고 있어서 수율 분석에 상당히 유리한 접근을 할수 있다.

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